Rasterkraftmikroskop (AFM) für Handschuhbox
Kategorie
Ausrüstung & Integration
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Überblick
Rasterkraftmikroskop (AFM)
Anwendungsbereiche
Beschreibung
- Das AFM ist ein Nahfeldmikroskop wie das Rastertunnelmikroskop (STM).
- Diese Instrumente sind in den Nanowissenschaften und Nanotechnologien unverzichtbar und ermöglichen eine Oberflächencharakterisierung von Proben.
Technische Daten
Technische Spezifikationen – Informationen
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1985 lieferte JACOMEX eine maßgeschneiderte Handschuhbox an IBM-Ingenieure mit der Integration eines Rastertunnelmikroskops zur Erhaltung der atomaren Auflösung.
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JACOMEX verwendet heute dieselben Techniken, um die Qualität und Präzision der Messungen zu gewährleisten.
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Ausstattung und Merkmale
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